ब्रान्ड: NANBEI
मोडेल: AFM
Atomic Force Microscope (AFM), इन्सुलेटरहरू सहित ठोस पदार्थहरूको सतह संरचना अध्ययन गर्न प्रयोग गर्न सकिने एक विश्लेषणात्मक उपकरण।यसले नमूनाको सतह र माइक्रो-बल सेन्सेटिभ एलिमेन्ट बीचको अत्यन्त कमजोर अन्तरपरमाणविक अन्तरक्रिया पत्ता लगाएर पदार्थको सतह संरचना र गुणहरूको अध्ययन गर्छ।