परमाणु बल afm माइक्रोस्कोप

★ एकीकृत स्क्यानिङ प्रोब र नमूना स्ट्यागले एन्टी-हस्तक्षेप क्षमतालाई बढायो।
★ प्रेसिजन लेजर र प्रोब पोजिशनिङ यन्त्रले प्रोब परिवर्तन गर्न र स्थानलाई सरल र सुविधाजनक समायोजन गर्दछ।
★ नमूना जाँचको पहुँच गर्ने तरिका प्रयोग गरेर, सुई नमूना स्क्यानिङमा सीधा हुन सक्छ।
★ स्वचालित पल्स मोटर ड्राइभ नियन्त्रण नमूना जांच ठाडो नजिक, स्क्यानिङ क्षेत्र को सटीक स्थिति प्राप्त गर्न।
★ उच्च परिशुद्धता नमूना मोबाइल उपकरणको डिजाइन प्रयोग गरेर रुचिको नमूना स्क्यानिङ क्षेत्र स्वतन्त्र रूपमा सार्न सकिन्छ।
★ अप्टिकल पोजिशनिङको साथ CCD अवलोकन प्रणालीले वास्तविक-समय अवलोकन र प्रोब नमूना स्क्यान क्षेत्रको स्थिति प्राप्त गर्दछ।
★ मोड्युलराइजेशनको इलेक्ट्रोनिक नियन्त्रण प्रणालीको डिजाइनले सर्किटको मर्मत र निरन्तर सुधारलाई सहज बनायो।
★ बहु स्क्यानिङ मोड नियन्त्रण सर्किट को एकीकरण, सफ्टवेयर प्रणाली संग सहयोग।
★ वसन्त निलम्बन जो सरल र व्यावहारिक वृद्धि विरोधी हस्तक्षेप क्षमता।